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    厂滨笔顿搁电阻率测试夹具

    厂滨笔顿搁电阻率测试夹具用于测量超材料和电阻膜的表面阻抗，以及用于半导体晶片的电导率的非接触式测量；可以测量的薄膜材料范围包括表面阻抗Rs 20kΩ/sq的电阻层、金属薄膜和导电聚合物薄膜。

    更新时间：2024-11-29

    厂商性质：经销商

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