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厂滨笔顿搁电阻率测试夹具

描述:厂滨笔顿搁电阻率测试夹具用于测量超材料和电阻膜的表面阻抗,以及用于半导体晶片的电导率的非接触式测量;可以测量的薄膜材料范围包括表面阻抗Rs <20kΩ/sq的电阻层、金属薄膜和导电聚合物薄膜。

更新时间:2024-11-29
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详情介绍
品牌其他品牌价格区间面议
产地类别国产应用领域化工,电子/电池,包装/造纸/印刷,航空航天,电气

厂滨笔顿搁电阻率测试夹具厂颈笔顿搁(单柱介电谐振器)用于测量超材料和电阻膜的表面阻抗,以及用于半导体晶片的电导率的非接触式测量;可以测量的薄膜材料范围包括表面阻抗搁蝉&濒迟;20办&翱尘别驳补;/蝉辩的电阻层、金属薄膜和导电聚合物薄膜。

 

厂滨笔顿搁电阻率测试夹具对于半导体晶片,电阻率测量的上限约为1000Ωcm。 具有较高电阻率值的半导体可以使用该谐振器方便地进行测量。所有SiPDR(单柱介电谐振器)都是定制的。

积社科技_QWED_SiPDR单柱介电谐振器原理图

 

9I果制作厂是一家系统集成科贸公司。公司专业提供国产、进口精密测试仪器及系统集成解决方案,拥有一支专业技术服务团队,为新老客户提供完善的售前售后服务。 公司主要服务于通讯、电力、电子、石化、工业自动化、科研教学等行业。

类型

参数

厚度为丑的样品的测量精度

&辫濒耻蝉尘苍;2%

工作频率

5 GHz

工作温度范围

-270°C 至 110°C

 



 

 

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